Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Химический анализ поверхности. Электронная спекроскопия Оже и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию определенной экспериментальным путем относительной чувствительности прибора для качественного анализа однородных материалов
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию определенной экспериментальным путем относительной чувствительности прибора для количественного анализа однородных материалов
|
Действует |
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Определение характеристик поверхности. Измерение бокового разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа
|
Действует |
На языке оригинала
|
10962,00
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Электронная спектроскопия Оже и рентгенографическая фотоэлектронная спетроскопия. Определение разрешения в поперечном напрапвлении
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Химический анализ поверхности. Определение разрешения в поперечном направлении и резкости луча в диапазоне от нанометров до микрометров
|
Действует |
На языке оригинала
|
33756,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Методики идентификации, оценки и корректировки непреднамеренного разложения под действием рентгеновских лучей материала, анализируемого с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
|
Действует |
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
Газовый анализ. Анализ чистоты материалов и обработка данных по их чистоте
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Анализ газов. Анализ чистоты и обработка данных по чистоте
|
Действует |
На языке оригинала
|
16704,00
|
Перевод на русский язык
|
33408,00
|
|
|
Газовый анализ. Руководящие указания по отбору проб
|
Действует |
На языке оригинала
|
30102,00
|
|
|
Химический анализ поверхностей. Фотоэлектронная рентгеновская спектроскопия. Протоколирование методов, используемых для регулирования и коррекции нагрузки
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Протоколирование методов, используемых для регулирования и коррекции заряда
|
Действует |
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и регистрация пределов обнаружения элементов в однородных материалах
|
Действует |
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчету результатов подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
|
Действует |
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгенофлуоресцентный анализ полного отражения воды
|
Действует |
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия с применение вторичного йона. Метод оценки параметров по глубине разрешения с множественными дельта-слойными эталонными материалами
|
Действует |
На языке оригинала
|
7308,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод коррекции интенсивности насыщения для вторично-ионной масс-спектрометрии с подсчетом первичных ионов в динамическом режиме
|
Действует |
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Обработка, подготовка и монтаж образцов. Часть 3. Биоматериалы
|
Действует |
На языке оригинала
|
10962,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Руководящие указания по обработке, подготовке и монтажу образцов. Часть 4. Отчетная информация относительно предистории, подготовки, обработки и монтажа нанообъектов перед проведением анализа поверхности
|
Действует |
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная Оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для протоколирования результатов
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная Оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для протоколирования результатов
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 |